一种材料在表面上可能看起来无瑕，但却无法正常功能。其原因在于隐藏在二维薄膜中的结构缺陷，这些薄膜被视为下一代半导体设备的关键材料。最近，一个韩国研究团队开发了一种光学分析方法，