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一种检测光学设备稳定性的新方法

Phys.org2026年10月18日 18:00

在光纤、芯片和其他光导设备中,微小的缺陷会散射光子并干扰其路径。一项新的研究展示了一种揭示某些系统中有助于光波行为抵御此类缺陷的性质的方法。这种方法可能有助于加快新型光学设备的研发。

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